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| 产地 | 国产 | 加工定制 | 否 |
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静态数据采集仪 型号：TR-UCAM-60A 日本
功能：
追求更便捷的测量方式。简单的操作按钮，易懂的显示屏幕，可迅速确认测量结果的打印机，所有的这些共同合作，满足测量领域的所有需求。它可连接的传感器包括应变计，应变传感器，带温度测量功能的土木领域的传感器，电压传感器，热电偶和直流电压输出设备。TR-UCAM-60A可同时接收这些不同的传感器的输入信号。只需要一个主机就可处理高达30条通道信号，而外接的传感器Z多可测量100条通道。测量的结果存储在内存中，也可存储在ATA卡中，通过插入PC机的接口处，则可方便地将数据传输到个人电脑上。更进一步，LAN和RS232C插口可以将TR-UCAM-60A连接到个人电脑。优化的TR-UCAM-60控制软件不仅可以使个人电脑控制TR-UCAM－60A，也可在现场进行数据采集时直接显示数据的分析处理等等。
特点：
可以同时输入应变，温度，电压信息。应变可精确到0.1μm/m，多种功能满足现场测量的各种不同需求。
技术规格：
可使用传感器应变计，应变传感器，带有测量温度功能的土木领域传感器，电压传感器，电位计和热传感器（热电偶和白金温度传感器）
显示：荧光显示器，128X64点
打印：打印系统：热敏；纸张宽度：58mm（24点/行），UCAM－RP；打印速度：60mm/s
PC卡接口：同PCMCIAVER4.2*；接受经济的ATA闪卡
插口：RS－232C（可使用经济的可转化RS－USB）LAN以太网（10BASE-T/100BASE-TX）
所需电源：85到264V交流50/60Hz（交流操作版本）：10到16V直流（直流操作版本）、
尺寸及重量：直径360（宽）X88（高）X400（厚）（不包括保护层）；重约8kg
配置：
数据采集仪（主机）：UCAM－60A－AC（用于交流操作）UCAM－60A－DC（用于直流操作）
扫描设备（连接到主机上）：USS-21A（主要用于应变测量） ；USS-22A（主要用于应变测量；包括NDIS连接器）；USS-22A （包括快速配入夹式接线端板）；USS－23A（用于土木领域测量，包括闪光制动器）。
注意：每一个扫描仪可用于10个通道。主机可安装高达3个设备。USS－21A和22A可以同时安装， USS－23A则不可以同USS－21A和22A混装。
外部扫描设备：选择的扫描插口，则可下在外部连接下面的扫描器：
USB－70A系列通过USI－67A插口；USB－51A/51AT系列通过USI－65A插口
USB－20A/50A系列通过USI－65A插口；USB－50D系列通过USI－65A插口
扫描插口：USI－67A（用于USB－70A系列）；USI－65A（用于USB－20/50/51系列）
外部输入/输出设备：UIO－60A
控制软件：UCS－60A
静态数据采集仪
 | 产品名称：氧化铝粉末安息角测定仪 产品型号：GB/T6609.24-2004 |
氧化铝粉末安息角测定仪型号：GB/T6609.24-2004
按照标准GB/T6609.24-2004《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法：安息角的测定》设计制造。用于测定自然流动状态下粉体的安息角。
安息角测定装置主要技术资料：
1、不锈钢漏斗:内经74mm，下料口内经6mm，两档板间装有孔径为1mm的筛网。此漏斗被紧固在支架上。
2、电镀钢底板：底板由钢制成或大理石、不锈钢等耐腐蚀的材料制成，Z小尺寸为：宽200mm、长270mm、厚18mm。在抛光电镀的底板上表面上刻有四条互成45。角的直线。正好在漏斗处的中心部分有1个固定高度量规的定位销，底板下面有3个可调水平的支脚。
3、漏斗固定器:由不锈钢组成，其结构应紧固。漏斗中心线垂直于中心定位销。
4、高度量规（决定高度的金属圆柱体）：它是表面抛光的由不锈钢制成的圆柱体，
高40mm，底部有一凹槽，以便完整同底板的定位销中心相衔接。
 | 产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号：SZT-1 |
数字式四探针测试仪型号：SZT-1
SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。
SZT-1型数字式四探针测试仪技术参数：
1． 测量范围：
电阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方块电阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
电阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
导电类型鉴别：电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可测半导体材料尺寸
直径：φ15~100 mm
长度：≤400mm
3． 测量方法：
轴向、断面均可
4． 显示方式：31/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
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