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| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
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数据采集仪
者较高采样速率的振动、噪声、冲击等信号采集，Z高采样频率1MHz，采用16 位高速AD 芯片、多通道并行、连续大容量设计，性能稳定可靠，可在具备USB2.0 高速接口的计算机上即插即用，具有精度高、失真小、噪声低、通道*性好、匹配性能好的优点，可与DASP 系列软件相连，形成具有一百余项先进技术的高性能数据采集和信号处理系统。
主要技术指标
Z高采样频率：1.024MHz/实际采样通道数
并行通道*性：幅值0.05dB，相位0.2度
数据采集仪
通道间串扰：-100dB
A/D分辨率：16位
输入量程：±5V
输入噪声：<0.5mVrms @±5V量程
输入阻抗：>1MΩ
输入接头：BNC
频率误差：<0.01%
幅值误差：<1%
幅值线性度：<0.025%
总谐波失真：<0.01%
采集深度：连续，仅受硬盘和操作系统限制
外形*：302×235×82mm @ 32/64通道
302×235×57mm @ 16通道
接口：USB2.0，即插即用，支持热插拔
操作系统：Windows 98/Me/2000/XP
应用软件：DASP系列全部软件
质量体系：ISO9001:2000质量体系认证,GB/T19001:2000国内质量体系认证
许
 | 产品名称：矿用粉尘采样器 产品型号：CCZ20 |
矿用粉尘采样器型号：CCZ20
产品简介：
CCZ20型矿用粉尘采样器时有高性能吸气泵、自动时间控制电路、流量调节电路、自动反馈恒流电路、欠压保护报警电路、安全电源等组成。具有无脉动气流、负压、负载能力大。自动定时采样、安全可靠、坚固耐用、使用方便等特点。 可广泛使用于工矿企业，劳动安全、卫生及环境保护等部门，测定环境空气中浮游粉尘的浓度。
产品特点及用途
CCZ20 型矿用粉尘采样器（以下简称采样器）为短时、可调流量式粉尘采样器，是一种用于测定环境空气中浮游粉尘浓度的常规仪器。该采样器配合微量天平可测量计算出含尘空气中呼吸性粉尘，非呼吸性粉尘及总粉尘的质量。其分离效能符合“BMRC” 呼吸性粉尘分离效能标准曲线的要求，是一种较为可靠测尘装置。采样器具有自动定时采样，无脉动气流，负载能力大，安全可靠，坚固耐用，便于携带和现场使用等优点。
该采样器于工矿企业、劳动安全、劳动卫生及环境保护等部门的粉尘监测，特别于煤矿井下及其它含有爆炸危险性气体的作业场所使用。
主要技术指标：
项目技术指标
采样器流量20L/min
采样器流量误差≤5.0%FS
采样器流量稳定性≤3.0﹪FS(30min内)
负载能力≥200Pa
连续工作时间≥100min
流量计准确度2.5级
防爆等级Exibd I
外形尺寸200x140x80mm
重量1.8kg
 | 产品名称：非接触厚度电阻率测试仪 产品型号：JXNRT1 |
非接触厚度电阻率测试仪型号：JXNRT1
一、测试原理
1、电阻率测试探头原理
电阻率测试模块是由一对共轴涡流传感器，以及后续的处理电路组成。将半导体硅片置于两个探头的间隙中时，在电磁场的作用下，半导体硅片中会产生涡流效应，通过检测涡流效应的大小，可以换算出该硅片的电阻率和方块电阻。本方法是一种非接触无损测量的方法，不损伤材料表面，可以在大多数场合有效替代四探针法测试电阻率以及方块电阻。
2、厚度测试探头原理
厚度探头采用的是一对共轴电容位移传感器。电容传感器具有重复性好，测试数值稳定，技术成熟等优点，广泛用于各种材料厚度的测试。
二、范围
本设备为非接触无损测量设备，测试过程中对硅片表面以及内部不会造成损伤。特别于代替四探针法用于半导体硅片成品分选检验。一台仪器可以同时对厚度和电阻率两个指标进行测试分选，减少了测试工序和测试时间，提高了测试效率。
典型的客户：科研单位、硅片生产厂商、半导体器件生产厂商、光伏企业、导电薄膜生产企业。
三、仪器构成
1、测试主机：1 台
2、电源线：1 根
3、串口数据线：1 根
4、电脑端软件：1 套
5、塑料定位柱：2 个
四、仪器外观尺寸结构及图片
1、整机尺寸：340*260*180mm
2、机箱颜色：电脑白
3、仪器结构：本仪器采用厚度探头和电阻率探头前后并列安装的方式。
五、仪器主要指标
1、电气规格
a. 使用标准三插头，由 220V 交流电供电，整机功耗小于 15 瓦。
b. 本仪器测试平台和外壳均为金属材料，按照安全规范，请确保电源地线正确连接。
2、测试范围
测试样品要求：厚度小于 600um 的半导体硅片以及其他类似材料。(为客户提供特殊定制，厚度大的测试范围可以扩展到 800um)
电阻率范围： L 档： 0.2-5 Ω·cm
H 档： 5-50 Ω·cm
注： 电阻率不在上述量程范围内的可以按要求调整， 调整的范围可以在0.001-100Ω*cm。
厚度范围： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片无法放入测试区域。
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